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Interplay between synthetic conditions and micromorphology in poly (3, 4-ethylenedioxythiophene): tosylate (PEDOT: Tos): an atomistic investigation
2019-01-01 Cappai, Antonio; Antidormi, Aleandro; Bosin, Andrea; Galliani, Daniela.; Narducci, Dario; Melis, Claudio.
Phonon scattering in silicon by multiple morphological defects: a multiscale analysis
2018-01-01 Lorenzi, Bruno; Dettori, Riccardo; Dunham, Marc T.; Melis, Claudio; Tonini, Rita; Colombo, Luciano; Sood, Aditya; Goodson, Kenneth E.; Narducci, Dario
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | Rivista | Editore |
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Interplay between synthetic conditions and micromorphology in poly (3, 4-ethylenedioxythiophene): tosylate (PEDOT: Tos): an atomistic investigation | 1-gen-2019 | Cappai, Antonio; Antidormi, Aleandro; Bosin, Andrea; Galliani, Daniela.; Narducci, Dario; Melis, Claudio. | PHYSICAL CHEMISTRY CHEMICAL PHYSICS | - |
Phonon scattering in silicon by multiple morphological defects: a multiscale analysis | 1-gen-2018 | Lorenzi, Bruno; Dettori, Riccardo; Dunham, Marc T.; Melis, Claudio; Tonini, Rita; Colombo, Luciano; Sood, Aditya; Goodson, Kenneth E.; Narducci, Dario | JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS | - |
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