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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) Rivista Editore
An automated lifetest equipment for optical emitters 1-gen-2002 Giglio, M; Martines, Giovanni; Mura, Giovanna; Podda, Simona; Vanzi, Massimo MICROELECTRONICS RELIABILITY -
A specimen-current branching approach for FA of long Electromigration test lines 1-gen-2002 C., Caprile; I., DE MUNARI; M., Impronta; Podda, Simona; A., Scorzoni; Vanzi, Massimo MICROELECTRONICS RELIABILITY -
ESD protection structures for 20 V and 40 V power supply suitable for BCD6 smart power technology 1-gen-2002 L., Sponton; L., Cerati; G., Croce; Mura, Giovanna; Podda, Simona; Vanzi, Massimo; G., Meneghesso MICROELECTRONICS RELIABILITY -
Backside Failure Analysis of GaAs ICs after EDS tests 1-gen-2002 Meneghesso, G; Cocco, A; Mura, Giovanna; Podda, Simona; Vanzi, Massimo MICROELECTRONICS RELIABILITY -
Invenstigation on ESD-stressed GaN/InGaN-on-sapphire blue LEDs 1-gen-2001 Meneghesso, G.; Podda, Simona; Vanzi, Massimo MICROELECTRONICS RELIABILITY -
Investigation on ESD-stressed GaN/InGaN- on-sapphire Blue LED 1-gen-2001 Podda, Simona; Vanzi, Massimo; Meneghesso, G. - -
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