ZHAO, WENJIE

ZHAO, WENJIE  

DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA ELETTRICA ED ELETTRONICA  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) Rivista Editore
FRCSyn Challenge at WACV 2024: Face Recognition Challenge in the Era of Synthetic Data 1-gen-2024 Melzi, P.; Tolosana, R.; Vera-Rodriguez, R.; Kim, M.; Rathgeb, C.; Liu, X.; Deandres-Tame, I.; Morales, A.; Fierrez, J.; Ortega-Garcia, J.; Zhao, W.; Zhu, X.; Yan, Z.; Zhang, X. -Y.; Wu, J.; Lei, Z.; Tripathi, S.; Kothari, M.; Zama, M. H.; Deb, D.; Biesseck, B.; Vidal, P.; Granada, R.; Fickel, G.; Fuhr, G.; Menotti, D.; Unnervik, A.; George, A.; Ecabert, C.; Shahreza, H. O.; Rahimi, P.; Marcel, S.; Sarridis, I.; Koutlis, C.; Baltsou, G.; Papadopoulos, S.; Diou, C.; Di Domenico, N.; Borghi, G.; Pellegrini, L.; Mas-Candela, E.; Sanchez-Perez, A.; Atzori, A.; Fenu, G.; Boutros, F.; Marras, M.; Damer, N. - Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
FRCSyn-onGoing: Benchmarking and comprehensive evaluation of real and synthetic data to improve face recognition systems 1-gen-2024 Melzi, P.; Tolosana, R.; Vera-Rodriguez, R.; Kim, M.; Rathgeb, C.; Liu, X.; DeAndres-Tame, I.; Morales, A.; Fierrez, J.; Ortega-Garcia, J.; Zhao, W.; Zhu, X.; Yan, Z.; Zhang, X. -Y.; Wu, J.; Lei, Z.; Tripathi, S.; Kothari, M.; Zama, M. H.; Deb, D.; Biesseck, B.; Vidal, P.; Granada, R.; Fickel, G.; Fuhr, G.; Menotti, D.; Unnervik, A.; George, A.; Ecabert, C.; Shahreza, H. O.; Rahimi, P.; Marcel, S.; Sarridis, I.; Koutlis, C.; Baltsou, G.; Papadopoulos, S.; Diou, C.; Domenico, N. D.; Borghi, G.; Pellegrini, L.; Mas-Candela, E.; Sanchez-Perez, A.; Atzori, A.; Boutros, F.; Damer, N.; Fenu, G.; Marras, M. INFORMATION FUSION -
Second Edition FRCSyn Challenge at CVPR 2024: Face Recognition Challenge in the Era of Synthetic Data 1-gen-2024 Deandres-Tame, I.; Tolosana, R.; Melzi, P.; Vera-Rodriguez, R.; Kim, M.; Rathgeb, C.; Liu, X.; Morales, A.; Fierrez, J.; Ortega-Garcia, J.; Zhong, Z.; Huang, Y.; Mi, Y.; Ding, S.; Zhou, S.; He, S.; Fu, L.; Cong, H.; Zhang, R.; Xiao, Z.; Smirnov, E.; Pimenov, A.; Grigorev, A.; Timoshenko, D.; Asfaw, K. M.; Low, C. Y.; Liu, H.; Wang, C.; Zuo, Q.; He, Z.; Shahreza, H. O.; George, A.; Unnervik, A.; Rahimi, P.; Marcel, S.; Neto, P. C.; Huber, M.; Kolf, J. N.; Damer, N.; Boutros, F.; Cardoso, J. S.; Sequeira, A. F.; Atzori, A.; Fenu, G.; Marras, M.; Struc, V.; Yu, J.; Li, Z.; Li, J.; Zhao, W.; Lei, Z.; Zhu, X.; Zhang, X. -Y.; Biesseck, B.; Vidal, P.; Coelho, L.; Granada, R.; Menotti, D. - IEEE Computer Society
Verification of Joint Current-State Opacity Using Petri Nets 1-gen-2023 Zhao, Wenjie; Giua, Alessandro; Li, Zhiwu - ELSEVIER