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Backside Failure Analysis of GaAs ICs after EDS tests
2002-01-01 Meneghesso, G; Cocco, A; Mura, Giovanna; Podda, Simona; Vanzi, Massimo
Failure modes and mechanisms of DC-aged GaN LEDs
2002-01-01 Meneghesso, G; Levada, S; Zanoni, E; Podda, Simona; Mura, Giovanna; Vanzi, Massimo; Cavallini, A; Castaldini, A; Du, S; Eliashevich, I.
An automated lifetest equipment for optical emitters
2002-01-01 Giglio, M; Martines, Giovanni; Mura, Giovanna; Podda, Simona; Vanzi, Massimo
Failure modes and mechanisms of DC-aged GaN LEDs
2002-01-01 Meneghesso, G.; Levada, S.; Zanoni, E.; Podda, S.; Mura, Giovanna; Vanzi, Massimo; Cavallini, A.; Castaldini, A.; Du, S.; Eliashevich, I.
Are Soft-Breakdown and Hard-Breakdown of thin gate oxides actually different failure mechanism
2000-01-01 J., Suñè; Mura, Giovanna; E., Miranda
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | Rivista | Editore |
|---|---|---|---|---|
| Backside Failure Analysis of GaAs ICs after EDS tests | 1-gen-2002 | Meneghesso, G; Cocco, A; Mura, Giovanna; Podda, Simona; Vanzi, Massimo | MICROELECTRONICS RELIABILITY | - |
| Failure modes and mechanisms of DC-aged GaN LEDs | 1-gen-2002 | Meneghesso, G; Levada, S; Zanoni, E; Podda, Simona; Mura, Giovanna; Vanzi, Massimo; Cavallini, A; Castaldini, A; Du, S; Eliashevich, I. | - | - |
| An automated lifetest equipment for optical emitters | 1-gen-2002 | Giglio, M; Martines, Giovanni; Mura, Giovanna; Podda, Simona; Vanzi, Massimo | MICROELECTRONICS RELIABILITY | - |
| Failure modes and mechanisms of DC-aged GaN LEDs | 1-gen-2002 | Meneghesso, G.; Levada, S.; Zanoni, E.; Podda, S.; Mura, Giovanna; Vanzi, Massimo; Cavallini, A.; Castaldini, A.; Du, S.; Eliashevich, I. | PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLIED RESEARCH | - |
| Are Soft-Breakdown and Hard-Breakdown of thin gate oxides actually different failure mechanism | 1-gen-2000 | J., Suñè; Mura, Giovanna; E., Miranda | IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS | - |
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