LIU, TIANYU

LIU, TIANYU  

DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA ELETTRICA ED ELETTRONICA  

Mostra records
Risultati 1 - 3 di 3 (tempo di esecuzione: 0.001 secondi).
Titolo Data di pubblicazione Autore(i) Rivista Editore
The present and future of QCD 1-gen-2024 Achenbach, P.; Adhikari, D.; Afanasev, A.; Afzal, F.; Aidala, C. A.; Al-bataineh, A.; Almaalol, D. K.; Amaryan, M.; Androić, D.; Armstrong, W. R.; Arratia, M.; Arrington, J.; Asaturyan, A.; Aschenauer, E. C.; Atac, H.; Avakian, H.; Averett, T.; Ayerbe Gayoso, C.; Bai, X.; Barish, K. N.; Barnea, N.; Basar, G.; Battaglieri, M.; Baty, A. A.; Bautista, I.; Bazilevsky, A.; Beattie, C.; Behera, S. C.; Bellini, V.; Bellwied, R.; Benesch, J. F.; Benmokhtar, F.; Bernardes, C. A.; Bernauer, J. C.; Bhatt, H.; Bhatta, S.; Boer, M.; Boettcher, T. J.; Bogacz, S. A.; Bossi, H. J.; Brandenburg, J. D.; Brash, E. J.; Briceño, R. A.; Briscoe, W. J.; Brodsky, S. J.; Brown, D. A.; Burkert, V. D.; Caines, H.; Cali, I. A.; Camsonne, A.; Carman, D. S.; Caylor, J.; Cerci, D. S.; Cerci, S.; Chamizo Llatas, M.; Chatterjee, S.; Chen, J. P.; Chen, Y.; Chen, Y. -C.; Chien, Y. -T.; Chou, P. -C.; Chu, X.; Chudakov, E.; Cline, E.; Cloët, I. C.; Cole, P. L.; Connors, M. E.; Constantinou, M.; Cosyn, W.; Covrig Dusa, S.; Cruz-Torres, R.; D'Alesio, U.; da Silva, C.; Davoudi, Z.; Dean, C. T.; Dean, D. J.; Demarteau, M.; Deshpande, A.; Detmold, W.; Deur, A.; Devkota, B. R.; Dhital, S.; Diefenthaler, M.; Dobbs, S.; Döring, M.; Dong, X.; Dotel, R.; Dow, K. A.; Downie, E. J.; Drachenberg, J. L.; Dumitru, A.; Dunlop, J. C.; Dupre, R.; Durham, J. M.; Dutta, D.; Edwards, R. G.; Ehlers, R. J.; El Fassi, L.; Elaasar, M.; Elouadrhiri, L.; Engelhardt, M.; Ent, R.; Esumi, S.; Evdokimov, O.; Eyser, O.; Fanelli, C.; Fatemi, R.; Fernando, I. P.; Flor, F. A.; Fomin, N.; Frawley, A. D.; Frederico, T.; Fries, R. J.; Gal, C.; Gamage, B. R.; Gamberg, L.; Gao, H.; Gaskell, D.; Geurts, F.; Ghandilyan, Y.; Ghimire, N.; Gilman, R.; Gleason, C.; Gnanvo, K.; Gothe, R. W.; Greene, S. V.; Grießhammer, H. W.; Grossberndt, S. K.; Grube, B.; Hackett, D. C.; Hague, T. J.; Hakobyan, H.; Hansen, J. -O.; Hatta, Y.; Hattawy, M.; Havener, L. B.; Hen, O.; Henry, W.; Higinbotham, D. W.; Hobbs, T. J.; Hodges, A. M.; Holmstrom, T.; Hong, B.; Horn, T.; Howell, C. R.; Huang, H. Z.; Huang, M.; Huang, S.; Huber, G. M.; Hyde, C. E.; Isupov, E. L.; Jacobs, P. M.; Jalilian-Marian, J.; Jentsch, A.; Jheng, H.; Ji, C. -R.; Ji, X.; Jia, J.; Jones, D. C.; Jones, M. K.; Joosten, S.; Kalantarians, N.; Kalicy, G.; Kang, Z. B.; Karthein, J. M.; Keller, D.; Keppel, C.; Khachatryan, V.; Kharzeev, D. E.; Kim, H.; Kim, M.; Kim, Y.; King, P. M.; Kinney, E.; Klein, S. R.; Ko, H. S.; Koch, V.; Kohl, M.; Kovchegov, Y. V.; Krintiras, G. K.; Kubarovsky, V.; Kuhn, S. E.; Kumar, K. S.; Kutz, T.; Lajoie, J. G.; Lauret, J.; Lavrukhin, I.; Lawrence, D.; Lee, J. H.; Lee, K.; Lee, S.; Lee, Y. -J.; Li, S.; Li, W.; Li, Xiaqing; Li, Xuan; Liao, J.; Lin, H. -W.; Lisa, M. A.; Liu, K. -F.; Liu, M. X.; Liu, T.; Liuti, S.; Liyanage, N.; Llope, W. J.; Loizides, C.; Longo, R.; Lorenzon, W.; Lunkenheimer, S.; Luo, X.; Ma, R.; Mckinnon, B.; Meekins, D. G.; Mehtar-Tani, Y.; Melnitchouk, W.; Metz, A.; Meyer, C. A.; Meziani, Z. -E.; Michaels, R.; Michel, J. K. L.; Milner, R. G.; Mkrtchyan, H.; Mohanmurthy, P.; Mohanty, B.; Mokeev, V. I.; Moon, D. H.; Mooney, I. A.; Morningstar, C.; Morrison, D. P.; Müller, B.; Mukherjee, S.; Mulligan, J.; Munoz Camacho, C.; Murillo Quijada, J. A.; Murray, M. J.; Nadeeshani, S. A.; Nadel-Turonski, P.; Nam, J. D.; Nattrass, C. E.; Nijs, G.; Noronha, J.; Noronha-Hostler, J.; Novitzky, N.; Nycz, M.; Olness, F. I.; Osborn, J. D.; Pak, R.; Pandey, B.; Paolone, M.; Papandreou, Z.; Paquet, J. -F.; Park, S.; Paschke, K. D.; Pasquini, B.; Pasyuk, E.; Patel, T.; Patton, A.; Paudel, C.; Peng, C.; Peng, J. C.; Pereira Da Costa, H.; Perepelitsa, D. V.; Peters, M. J.; Petreczky, P.; Pisarski, R. D.; Pitonyak, D.; Ploskon, M. A.; Posik, M.; Poudel, J.; Pradhan, R.; Prokudin, A.; Pruneau, C. A.; Puckett, A. J. R.; Pujahari, P.; Putschke, J.; Pybus, J. R.; Qiu, J. -W.; Rajagopal, K.; Ratti, C.; Read, K. F.; Reed, R.; Richards, D. G.; Riedl, C.; Ringer, F.; Rinn, T.; Rittenhouse West, J.; Roche, J.; Rodas, A.; Roland, G.; Romero-López, F.; Rossi, P.; Rostomyan, T.; Ruan, L.; Ruimi, O. M.; Saha, N. R.; Sahoo, N. R.; Sakaguchi, T.; Salazar, F.; Salgado, C. W.; Salmè, G.; Salur, S.; Santiesteban, S. N.; Sargsian, M. M.; Sarsour, M.; Sato, N.; Satogata, T.; Sawada, S.; Schäfer, T.; Scheihing-Hitschfeld, B.; Schenke, B.; Schindler, S. T.; Schmidt, A.; Seidl, R.; Shabestari, M. H.; Shanahan, P. E.; Shen, C.; Sheng, T. -A.; Shepherd, M. R.; Sickles, A. M.; Sievert, M. D.; Smith, K. L.; Song, Y.; Sorensen, A.; Souder, P. A.; Sparveris, N.; Srednyak, S.; Stahl Leiton, A. G.; Stasto, A. M.; Steinberg, P.; Stepanyan, S.; Stephanov, M.; Stevens, J. R.; Stewart, D. J.; Stewart, I. W.; Stojanovic, M.; Strakovsky, I.; Strauch, S.; Strickland, M.; Sunar Cerci, D.; Suresh, M.; Surrow, B.; Syritsyn, S.; Szczepaniak, A. P.; Tadepalli, A. S.; Tang, A. H.; Tapia Takaki, J. D.; Tarnowsky, T. J.; Tawfik, A. N.; Taylor, M. I.; Tennant, C.; Thiel, A.; Thomas, D.; Tian, Y.; Timmins, A. R.; Tribedy, P.; Tu, Z.; Tuo, S.; Ullrich, T.; Umaka, E.; Upton, D. W.; Vary, J. P.; Velkovska, J.; Venugopalan, R.; Vijayakumar, A.; Vitev, I.; Vogelsang, W.; Vogt, R.; Vossen, A.; Voutier, E.; Vovchenko, V.; Walker-Loud, A.; Wang, F.; Wang, J.; Wang, X.; Wang, X. -N.; Weinstein, L. B.; Wenaus, T. J.; Weyhmiller, S.; Wissink, S. W.; Wojtsekhowski, B.; Wong, C. P.; Wood, M. H.; Wunderlich, Y.; Wyslouch, B.; Xiao, B. W.; Xie, W.; Xiong, W.; Xu, N.; Xu, Q. H.; Xu, Z.; Yaari, D.; Yao, X.; Ye, Z.; Ye, Z. H.; Yero, C.; Yuan, F.; Zajc, W. A.; Zhang, C.; Zhang, J.; Zhao, F.; Zhao, Y.; Zhao, Z. W.; Zheng, X.; Zhou, J.; Zurek, M. NUCLEAR PHYSICS. A -
Timed Opacity Verification for Switching Output Automata 1-gen-2024 Liu, T.; Seatzu, C.; Giua, A. - -
Verification of Current State Opacity using Switching Output Automata 1-gen-2023 Liu, T.; Seatzu, C.; Giua, A. - -