Generalized Likelihood Ratio Test for voltage dip detection / A. MOSCHITTA; P. CARBONE; MUSCAS C. - (2010), pp. 476-481. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC) tenutosi a Austin (Texas, USA) nel 3-6 Maggio 2010 [10.1109/IMTC.2010.5488097].
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Titolo: | Generalized Likelihood Ratio Test for voltage dip detection | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2010 | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11584/26086 | |
ISBN: | 978-1-4244-2832-8 | |
Tipologia: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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