A new automated test-set for the characterization of low-noise devices in terms of noise, gain and scattering parameters / GARBO G; MARTINES G; SANNINO M. - (1990), pp. 275-280. ((Intervento presentato al convegno MIOP '90 tenutosi a Stuttgart, Germany nel 24-26 april 1990.
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Titolo: | A new automated test-set for the characterization of low-noise devices in terms of noise, gain and scattering parameters | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 1990 | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11584/13952 | |
Tipologia: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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