A computer-controlled test-set for the complete characterization of GaAs low noise devices / MARTINES G; SANNINO M. - (1988), pp. 1A-4-1A-7. ((Intervento presentato al convegno MIOP '88 tenutosi a Wiesbaden, West Germany nel 2-4 march 1988.
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Titolo: | A computer-controlled test-set for the complete characterization of GaAs low noise devices |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 1988 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11584/13956 |
Tipologia: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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