A computer-assisted noise parameter test-set for the characterization of microwave transistors in terms of noise, gain and scattering parameters / MARTINES G; SANNINO M. - (1986), pp. 427-428. ((Intervento presentato al convegno ESREF '99 tenutosi a Budapest nel 25-29 August 1986.
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Titolo: | A computer-assisted noise parameter test-set for the characterization of microwave transistors in terms of noise, gain and scattering parameters |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 1986 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11584/14028 |
Tipologia: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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