Studio degli stress residui mediante diffrazione X di un interlayer W/Cu depositato con plasma spraying = Study of residual stresses through X-ray diffraction of a W/Cu interlayer deposited by plasma spraying

Tungsten is considered an excellent material for the realisation of components protecting the plasma facing materials in nuclear fusion reactors. In this work, the CuCrZr - W / Cu - W system is studied in order to evaluate the efficiency of the interlayer consisting in a functional graded material (FGM), obtained by plasma spraying (PS). Residual stresses are measured using X-ray diffraction technique (XRD). The coating and interlayer exhibit excellent adhesion without the presence of interfaces and cracks. The results show that the use of an FGM interlayer allows to improve the quality of the joint decreasing the accumulation of residual stresses of the coating and substrate.

Il tungsteno viene considerato un ottimo materiale per la realizzazione di componenti posti a protezione dei materiali che si affacciano al plasma nei futuri reattori a fusione nucleare. In questo lavoro è stato studiato il sistema CuCrZr-W/Cu–W al fine di valutare l’efficacia dell’interlayer rappresentato da un materiale funzionalmente graduato (FGM), ottenuto mediante plasma spraying (PS). A tal fine sono stati misurati gli stress residui mediante la tecnica di diffrazione dei raggi X (XRD). Il rivestimento e l’interlayer mostrano un’ottima adesione senza presenza di interfacce e risultano esenti da cricche. I risultati permettono di concludere che l’impiego di un interlayer FGM consente di migliorare la qualità della giunzione mitigando l’accumulo degli stress residui del rivestimento e del substrato.