Caracterization of a double sided microstrip silicon detector to X-rays in the diagnostic energy range / BANDETTINI A.; BENCIVELLI W.; BERTOLUCCI E.; BOTTIGLI U.; CONTI M.; DEL GUERRA A.; FANTACCI M.E.; RANDACCIO P; ROSSO V.; RUSSO P.; STEFANINI A.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - NS-40:(1993), pp. 983-986.
Scheda prodotto non validato
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo
Titolo: | Caracterization of a double sided microstrip silicon detector to X-rays in the diagnostic energy range | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 1993 | |
Rivista: | ||
Handle: | http://hdl.handle.net/11584/669 | |
Tipologia: | 1.1 Articolo in rivista |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.