Caracterization of a double sided microstrip silicon detector to X-rays in the diagnostic energy range

Bandettini, A.; Bencivelli, W.; Bertolucci, E.; Bottigli, U.; Conti, M.; Del Guerra, A.; Fantacci, M. E.; Randaccio, Paolo; Rosso, V.; Russo, P.; Stefanini, A.

Caracterization of a double sided microstrip silicon detector to X-rays in the diagnostic energy range / BANDETTINI A.; BENCIVELLI W.; BERTOLUCCI E.; BOTTIGLI U.; CONTI M.; DEL GUERRA A.; FANTACCI M.E.; RANDACCIO P; ROSSO V.; RUSSO P.; STEFANINI A.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - NS-40(1993), pp. 983-986.

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Titolo:	Caracterization of a double sided microstrip silicon detector to X-rays in the diagnostic energy range
Autori:	BANDETTINI A. BENCIVELLI W. BERTOLUCCI E. BOTTIGLI U. CONTI M. DEL GUERRA A. FANTACCI M. E. RANDACCIO, PAOLO ROSSO V. RUSSO P. STEFANINI A. mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	1993
Rivista:	IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
Handle:	http://hdl.handle.net/11584/669
Tipologia:	1.1 Articolo in rivista

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